Главная особенность конструкции  — ортогональность SEM и FIB пучков. Такой дизайн позволяет получать высокоразрешающие SEM-EDX-EBSD 3D реконструкции с режиме реального времени без искажений. Использование прибора со специализированным программным обеспечением позволяет получать и обрабатывать 3D информацию на биологических и материаловедческих образцах в нанометровом масштабе легко и быстро. Прибор может быть оснащён системой аргонового травления, системой переноса образца без доступа кислорода.  
Major specifications
SEM Источник электронов Источник автоэлектронной эмиссии с холодным катодом
Ускоряющее напряжение 0.1кВ~30кВ
Разрешение 2.1 нм на 1 кВ, 1.6 нм на 15 кВ
FIB Ускоряющее напряжение 0.5кВ~30кВ
  Ионный источник На основе жидкометаллического галлия
SIM Разрешение 4нм на 30кВ
Максимальный ток пучка 0.05pA to 100nA
 

Для получения коммерческого предложения заполните форму