NX9000
Главная особенность конструкции — ортогональность SEM и FIB пучков. Такой дизайн позволяет получать высокоразрешающие SEM-EDX-EBSD 3D реконструкции с режиме реального времени без искажений.
Использование прибора со специализированным программным обеспечением позволяет получать и обрабатывать 3D информацию на биологических и материаловедческих образцах в нанометровом масштабе легко и быстро.
Прибор может быть оснащён системой аргонового травления, системой переноса образца без доступа кислорода.
Major specifications | ||
SEM | Источник электронов | Источник автоэлектронной эмиссии с холодным катодом |
Ускоряющее напряжение | 0.1кВ~30кВ | |
Разрешение | 2.1 нм на 1 кВ, 1.6 нм на 15 кВ | |
FIB | Ускоряющее напряжение | 0.5кВ~30кВ |
Ионный источник | На основе жидкометаллического галлия | |
SIM Разрешение | 4нм на 30кВ | |
Максимальный ток пучка | 0.05pA to 100nA |
Для получения коммерческого предложения заполните форму