scietegra@scietegra.com
+7 (495) 542 49 16
ЭЖК Эдем, квартал 5, д.12
Сайтегра
О компании
Вакансии
Оборудование
Хроматография
Жидкостный хроматограф Маэстро ВЭЖХ
Масс-спектрометрия
ГХ-МС
Газовый хромато-масс-спектрометр Маэстро-αМС
Элементный анализ
Атомно-абсорбционная спектрометрия
novAA
Атомно-абсорбционные спектрометры серии novAA®
ZEEnit
650P
700P
contrAA
Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® 800
ИСП-ОЭС
Plasma Quant
Plasma Quant 9000
ИСП-МС
Plasma Quant PQ MS
Plasma Quant MS
CNSCl-анализаторы
CNSCl — анализаторы
multi EA4000
multi EA5000
TOC — анализаторы
ТОС-анализатор серии multiN/C®
Электронная микроскопия
Помощник в выборе микроскопа
Сканирующие ЭМ
W-SEM
Hitachi ТМ4000 Plus
FlexSEM SU1000
SU3800/SU3900
FE-SEM
SU5000
SU7000
SU8200
SU9000
Просвечивающие ЭМ
HT7800
HD2700
FE-TEM HF5000 Hitachi HT
HF-3300
Пробоподготовка
Крио-пробоподготовка для электронной микроскопии
Leica EM AFS2 Smart
Высококлассная система для подготовки образцов (TEM и SEM исследования) Leica EM ACE900
Leica EM ICE
Универсальная вакуумная крио-система для транспортировки образцов с защитой от загрязнения Leica EM VCT500
Двулучевые системы
NX2000
NX5000
NX9000
Триммеры и прецизионные станки
Leica EM RAPID
Leica EM TXP
Leica EM TRIM2
Установки для очистки образцов озоном и ультрафиолетом
Установка для очистки образцов озоном и ультрафиолетом Sample Cleaner ZONESEM & ZONETEM Hitachi HT
Ультрамикротомы & Системы по изготовлению стеклянных ножей
Leica EM KMR3
Leica EM FC7
Leica EM UC7
Системы ионного травления
Установка ионного травления Hitachi ArBlade5000
Cистема ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков Leica EM RES102
Hitachi IM4000Plus
Leica EM TIC 3X
Системы напыления металлом и углеродом
Leica EM ACE200
Leica EM ACE600
Leica EM ACE900
Тканевый процессор
Leica EM TP
Сушка в критической точке
Leica EM CPD300
Световая микроскопия
Прямые микроскопы
Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
Leica DM500
Прямой универсальный микроскоп Leica DM750 с бесконечной оптикой
Leica DM1000
Лабораторный эргономичный микроскоп с DIC-контрастом Leica DM2000
Leica DM4 B&DM6B
Leica DM2500
Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
Прямой монокулярный микроскоп Leitz Optilux
Конфокальные микроскопы
Leica TCS SPE
Leica TCS LSI
Leica TCS SP8
Инвертированные микроскопы
Leica DMi1
Leica DMi8
Leica DMI3000 M
Leica DM IL LED
Стереомикроскопы
Серия А60
Стереомикроскопы отраженного света серии Leica A60
Серия S9
Leica Stereozoom серия S9
Серия EZ 4
Стереомикроскоп Leica EZ4 – без цифровой камеры
Стереомикроскоп Leica EZ4 W — со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп и WiFi-модулем для передачи данных
Стереомикроскоп Leica EZ4 E – со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп
Серия M
Leica М50
Leica М60
Leica M80
Leica M125
Флуоресцентный стереомикроскоп Leica M205 FCA
Микроскопы сравнения
LEICA FS M
Сравнительная макроскопная система для криминалистики Leica FS C / M
Сравнительная микроскопная система для криминалистики Leica FS4 B
Сравнительная макроскопная система для криминалистики LEICA FS M
3D-Микроскопия
3D Cell Explorer
Термоанализ
Синхронный термический анализ
STA7000
Термомеханический анализ
TMA7000
Динамический механический анализ
DMA7100
Дифференциальная сканирующая калориметрия
Система УФ-излучения
DSC7000X
DSC7020
Молекулярная спектроскопия
УФ
Псевдодвухлучевые спектрофотометры
УФ-Вид спектрофотометры SPECORD
Акции
Микроскопы Leica по низкой цене
Оборудование по специальным ценам! Поставка до конца года!
Новости
Статьи
Контакты
Сервис
Поиск
Начните вводить и нажмите ввод для поиска
