Главная особенность конструкции – ортогональность SEM и FIB пучков. Такой дизайн позволяет получать высокоразрешающие SEM-EDX-EBSD 3D реконструкции с режиме реального времени без искажений.
Использование прибора со специализированным программным обеспечением позволяет получать и обрабатывать 3D информацию на биологических и материаловедческих образцах в нанометровом масштабе легко и быстро.
Прибор может быть оснащён системой аргонового травления, системой переноса образца без доступа кислорода.
| Major specifications | ||
| SEM | Источник электронов | Источник автоэлектронной эмиссии с холодным катодом |
| Ускоряющее напряжение | 0.1кВ～30кВ | |
| Разрешение | 2.1 нм на 1 кВ, 1.6 нм на 15 кВ | |
| FIB | Ускоряющее напряжение | 0.5кВ～30кВ |
| Ионный источник | На основе жидкометаллического галлия | |
| SIM Разрешение | 4нм на 30кВ | |
| Максимальный ток пучка | 0.05pA to 100nA | |
Для получения коммерческого предложения заполните форму