Leica EM TXP для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований

Универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности  образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований. Установка оснащена интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой и регулировкой угла наклона держателя образцов. Для контроля качества полученных поверхностей нет необходимости использовать дополнительный микроскоп. Отлично подходит для предварительно подготовки образцов для ультрамикротома и ионного травления.