scietegra@scietegra.com +7 (495) 542 49 16 ЭЖК Эдем, квартал 5, д.12
  • Сайтегра
    • О компании
    • Вакансии
  • Оборудование
    • Хроматография
      • Газовый хромато-масс-спектрометр Маэстро-αМС
      • Жидкостный хроматограф Маэстро ВЭЖХ
      • Близар Компакт
    • Элементный анализ
      • Атомно-абсорбционная спектрометрия
        • novAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии novAA®
        • ZEEnit
          • 650P
          • 700P
        • contrAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® 800
      • ИСП-ОЭС
        • Plasma Quant
          • Plasma Quant 9000
      • ИСП-МС
        • Plasma Quant PQ MS
          • Plasma Quant MS
      • CNSCl-анализаторы
        • CNSCl — анализаторы
          • multi EA4000
          • multi EA5000
        • TOC — анализаторы
    • Электронная микроскопия
      • Помощник в выборе микроскопа
      • Сканирующие ЭМ
        • Термоэмиссионные микроскопы
          • Hitachi ТМ4000 Plus
          • FlexSEM SU1000
          • SU3800/SU3900
        • Автоэмиссионные микроскопы
          • SU5000
          • SU7000
          • SU8200
          • SU9000
      • Просвечивающие ЭМ
        • HT7800
        • HD2700
        • FE-TEM HF5000 Hitachi HT
        • HF-3300
      • Пробоподготовка
        • Крио-пробоподготовка для электронной микроскопии
          • Leica EM AFS2 Smart
          • Высококлассная система для подготовки образцов (TEM и SEM исследования) Leica EM ACE900
          • Leica EM ICE
          • Универсальная вакуумная крио-система для транспортировки образцов с защитой от загрязнения Leica EM VCT500
        • Двулучевые системы
          • NX2000
          • NX5000
          • NX9000
        • Триммеры и прецизионные станки
          • Leica EM RAPID
          • Leica EM TXP
          • Leica EM TRIM2
        • Установки для очистки образцов озоном и ультрафиолетом
          • Установка для очистки образцов озоном и ультрафиолетом Sample Cleaner ZONESEM & ZONETEM Hitachi HT
        • Ультрамикротомы & Системы по изготовлению стеклянных ножей
          • Leica EM KMR3
          • Leica EM FC7
          • Leica EM UC7
        • Системы ионного травления
          • Установка ионного травления Hitachi ArBlade5000
          • Cистема ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков Leica EM RES102
          • Hitachi IM4000Plus
          • Leica EM TIC 3X
        • Системы напыления металлом и углеродом
          • Leica EM ACE200
          • Leica EM ACE600
          • Leica EM ACE900
        • Тканевый процессор
          • Leica EM TP
        • Сушка в критической точке
          • Leica EM CPD300
    • Световая микроскопия
      • Прямые микроскопы
        • Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
        • Leica DM500
        • Прямой универсальный микроскоп Leica DM750 с бесконечной оптикой
        • Leica DM1000
        • Лабораторный эргономичный микроскоп с DIC-контрастом Leica DM2000
        • Leica DM4 B&DM6B
        • Leica DM2500
        • Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
        • Прямой монокулярный микроскоп Leitz Optilux
      • Конфокальные микроскопы
        • Leica TCS SPE
        • Leica TCS LSI
        • Leica TCS SP8
      • Инвертированные микроскопы
        • Leica DMi1
        • Leica DMi8
        • Leica DMI3000 M
        • Leica DM IL LED
      • Стереомикроскопы
        • Серия А60
          • Стереомикроскопы отраженного света серии Leica A60
        • Серия S9
          • Leica Stereozoom серия S9
        • Серия EZ 4
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 – без цифровой камеры
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 W — со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп и WiFi-модулем для передачи данных
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 E – со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп
        • Серия M
          • Leica М50
          • Leica М60
          • Leica M80
          • Leica M125
          • Флуоресцентный стереомикроскоп Leica M205 FCA
      • Микроскопы сравнения
        • LEICA FS M
        • Сравнительная макроскопная система для криминалистики Leica FS C / M
        • Сравнительная микроскопная система для криминалистики Leica FS4 B
        • Сравнительная макроскопная система для криминалистики LEICA FS M
      • 3D-Микроскопия
        • 3D Cell Explorer
    • Термоанализ
      • Синхронный термический анализ
        • STA7000
      • Термомеханический анализ
        • TMA7000
      • Динамический механический анализ
        • DMA7100
      • Дифференциальная сканирующая калориметрия
        • Система УФ-излучения
        • DSC7000X
        • DSC7020
    • Молекулярная спектроскопия
      • УФ
        • Псевдодвухлучевые спектрофотометры