scietegra@scietegra.com +7 (495) 542 49 16 мкр. Новогорск, ул. Заречная, д. 11, стр. 105
  • Сайтегра
    • О компании
    • Вакансии
  • Оборудование
    • Хроматография
      • Маэстро Альфа МС
      • Жидкостный хроматограф Маэстро ВЭЖХ
      • Маэстро Компакт
    • Элементный анализ
      • Атомно-абсорбционная спектрометрия
        • novAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии novAA®
        • Высокотехнологичные атомно-абсорбционные спектрометры ZEEnit
          • 650P
          • 700P
        • contrAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® 800
      • Оптический эмиссионный спектрометр для измерения массовой доли химических элементов (ИСП-ОЭС)
        • Plasma Quant 9000
      • Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС)
        • Plasma Quant MS
      • CNSCl-анализаторы
        • CNSCl — анализаторы
          • multi EA4000
          • multi EA5000
        • TOC — анализаторы
          • Анализатор суммарных параметров multi N/C® 2100S
          • Анализатор суммарных параметров multi N/C® 3100
          • Анализатор суммарных параметров multi N/C® pharma
          • Анализатор суммарных параметров multi N/C® UV HS
    • Электронная микроскопия
      • Помощник в выборе микроскопа
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Термоэмиссионные микроскопы
          • Hitachi ТМ4000 Plus
          • FlexSEM SU1000
          • SU3800/SU3900
        • Автоэмиссионные микроскопы
          • SU5000
          • SU7000
          • SU8200
          • SU9000
      • Просвечивающие электронные микроскопы
        • HT7800
        • HD2700
        • FE-TEM HF5000 Hitachi HT
        • HF-3300
      • Пробоподготовка
        • Крио-пробоподготовка для электронной микроскопии
          • Leica EM AFS2 Smart
          • Высококлассная система для подготовки образцов (TEM и SEM исследования) Leica EM ACE900
          • Leica EM ICE
          • Универсальная вакуумная крио-система для транспортировки образцов с защитой от загрязнения Leica EM VCT500
        • Двулучевые системы
          • NX2000
          • NX5000
          • NX9000
        • Триммеры и прецизионные станки
          • Leica EM RAPID
          • Leica EM TXP
          • Leica EM TRIM2
        • Установки для очистки образцов озоном и ультрафиолетом
          • Установка для очистки образцов озоном и ультрафиолетом Sample Cleaner ZONESEM & ZONETEM Hitachi HT
        • Ультрамикротомы & Системы по изготовлению стеклянных ножей
          • Leica EM KMR3
          • Leica EM FC7
          • Leica EM UC7
        • Системы ионного травления
          • Установка ионного травления Hitachi ArBlade5000
          • Cистема ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков Leica EM RES102
          • Hitachi IM4000Plus
          • Leica EM TIC 3X
        • Системы напыления металлом и углеродом
          • Leica EM ACE200
          • Leica EM ACE600
          • Leica EM ACE900
        • Тканевый процессор
          • Leica EM TP
        • Сушка в критической точке
          • Leica EM CPD300
    • Световая микроскопия
      • Прямые микроскопы
        • Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
        • Leica DM500
        • Прямой универсальный микроскоп Leica DM750 с бесконечной оптикой
        • Leica DM1000
        • Лабораторный эргономичный микроскоп с DIC-контрастом Leica DM2000
        • Leica DM4 B&DM6B
        • Leica DM2500
        • Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
        • Прямой монокулярный микроскоп Leitz Optilux
      • Конфокальные микроскопы
        • Leica STELLARIS STED
        • Leica STELLARIS 5 LIAchroic
        • Leica STELLARIS 5 WLL
        • Leica STELLARIS 8
      • Инвертированные микроскопы
        • Leica DMi1
        • Leica DMi8
        • Leica DMI3000 M
        • Leica DM IL LED
      • Стереомикроскопы
        • Серия А60
          • Стереомикроскопы отраженного света серии Leica A60
        • Серия S9
          • Leica Stereozoom серия S9
        • Серия EZ 4
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 – без цифровой камеры
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 W — со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп и WiFi-модулем для передачи данных
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 E – со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп
        • Серия M
          • Leica М50
          • Leica М60
          • Leica M80
          • Leica M125
          • Флуоресцентный стереомикроскоп Leica M205 FCA
      • Микроскопы сравнения
        • LEICA FS M
        • Leica FS C / M
        • Leica FS4 B
        • LEICA FS M
      • 3D-Микроскопия
        • 3D Cell Explorer
    • Термоанализ
      • Синхронный термический анализ
        • STA7000
      • Термомеханический анализ
        • TMA7000
      • Динамический механический анализ
        • DMA7100
      • Дифференциальная сканирующая калориметрия
        • Система УФ-излучения
        • DSC7000X
        • DSC7020
    • Молекулярная спектроскопия
      • УФ-Вид спектрофотометры SPECORD
  • Акции
    • Микроскоп Leica по низкой цене
    • Оборудование по специальным ценам со склада в Москве
  • Новости
    • Статьи
  • Контакты
  • Сервис
  • Русский
Поиск
Начните вводить и нажмите ввод для поиска
  • Сайтегра
    • О компании
    • Вакансии
  • Оборудование
    • Хроматография
      • Маэстро Альфа МС
      • Жидкостный хроматограф Маэстро ВЭЖХ
      • Маэстро Компакт
    • Элементный анализ
      • Атомно-абсорбционная спектрометрия
        • novAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии novAA®
        • Высокотехнологичные атомно-абсорбционные спектрометры ZEEnit
          • 650P
          • 700P
        • contrAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® 800
      • Оптический эмиссионный спектрометр для измерения массовой доли химических элементов (ИСП-ОЭС)
        • Plasma Quant 9000
      • Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС)
        • Plasma Quant MS
      • CNSCl-анализаторы
        • CNSCl — анализаторы
          • multi EA4000
          • multi EA5000
        • TOC — анализаторы
          • Анализатор суммарных параметров multi N/C® 2100S
          • Анализатор суммарных параметров multi N/C® 3100
          • Анализатор суммарных параметров multi N/C® pharma
          • Анализатор суммарных параметров multi N/C® UV HS
    • Электронная микроскопия
      • Помощник в выборе микроскопа
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Термоэмиссионные микроскопы
          • Hitachi ТМ4000 Plus
          • FlexSEM SU1000
          • SU3800/SU3900
        • Автоэмиссионные микроскопы
          • SU5000
          • SU7000
          • SU8200
          • SU9000
      • Просвечивающие электронные микроскопы
        • HT7800
        • HD2700
        • FE-TEM HF5000 Hitachi HT
        • HF-3300
      • Пробоподготовка
        • Крио-пробоподготовка для электронной микроскопии
          • Leica EM AFS2 Smart
          • Высококлассная система для подготовки образцов (TEM и SEM исследования) Leica EM ACE900
          • Leica EM ICE
          • Универсальная вакуумная крио-система для транспортировки образцов с защитой от загрязнения Leica EM VCT500
        • Двулучевые системы
          • NX2000
          • NX5000
          • NX9000
        • Триммеры и прецизионные станки
          • Leica EM RAPID
          • Leica EM TXP
          • Leica EM TRIM2
        • Установки для очистки образцов озоном и ультрафиолетом
          • Установка для очистки образцов озоном и ультрафиолетом Sample Cleaner ZONESEM & ZONETEM Hitachi HT
        • Ультрамикротомы & Системы по изготовлению стеклянных ножей
          • Leica EM KMR3
          • Leica EM FC7
          • Leica EM UC7
        • Системы ионного травления
          • Установка ионного травления Hitachi ArBlade5000
          • Cистема ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков Leica EM RES102
          • Hitachi IM4000Plus
          • Leica EM TIC 3X
        • Системы напыления металлом и углеродом
          • Leica EM ACE200
          • Leica EM ACE600
          • Leica EM ACE900
        • Тканевый процессор
          • Leica EM TP
        • Сушка в критической точке
          • Leica EM CPD300
    • Световая микроскопия
      • Прямые микроскопы
        • Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
        • Leica DM500
        • Прямой универсальный микроскоп Leica DM750 с бесконечной оптикой
        • Leica DM1000
        • Лабораторный эргономичный микроскоп с DIC-контрастом Leica DM2000
        • Leica DM4 B&DM6B
        • Leica DM2500
        • Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
        • Прямой монокулярный микроскоп Leitz Optilux
      • Конфокальные микроскопы
        • Leica STELLARIS STED
        • Leica STELLARIS 5 LIAchroic
        • Leica STELLARIS 5 WLL
        • Leica STELLARIS 8
      • Инвертированные микроскопы
        • Leica DMi1
        • Leica DMi8
        • Leica DMI3000 M
        • Leica DM IL LED
      • Стереомикроскопы
        • Серия А60
          • Стереомикроскопы отраженного света серии Leica A60
        • Серия S9
          • Leica Stereozoom серия S9
        • Серия EZ 4
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 – без цифровой камеры
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 W — со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп и WiFi-модулем для передачи данных
          • Стереомикроскоп Leica EZ4 E – со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп
        • Серия M
          • Leica М50
          • Leica М60
          • Leica M80
          • Leica M125
          • Флуоресцентный стереомикроскоп Leica M205 FCA
      • Микроскопы сравнения
        • LEICA FS M
        • Leica FS C / M
        • Leica FS4 B
        • LEICA FS M
      • 3D-Микроскопия
        • 3D Cell Explorer
    • Термоанализ
      • Синхронный термический анализ
        • STA7000
      • Термомеханический анализ
        • TMA7000
      • Динамический механический анализ
        • DMA7100
      • Дифференциальная сканирующая калориметрия
        • Система УФ-излучения
        • DSC7000X
        • DSC7020
    • Молекулярная спектроскопия
      • УФ-Вид спектрофотометры SPECORD
  • Акции
    • Микроскоп Leica по низкой цене
    • Оборудование по специальным ценам со склада в Москве
  • Новости
    • Статьи
  • Контакты
  • Сервис
  • Русский
Поиск
Главная / Новости / Вебинар "Revolutionary Cell 3D Microscope from Nanolive" 14 сентября 2017

Вебинар "Revolutionary Cell 3D Microscope from Nanolive" 14 сентября 2017

Опубликовано 12.09.2017 от Scietegra

Вебинар "Revolutionary Cell 3D Microscope from Nanolive" 14 сентября 2017


Подробнее

Рубрика Новости
  • scietegra@scietegra.com
  • +7 (495) 542 49 16

Сайтегра Новости Сервис О компании Сайтегра

© ООО «САЙТЕГРА», 2003-2023. Все права защищены. Весь текст, изображения, дизайн, структура, компоновка, графическое, цветовое и иное оформление, иные элементы документа, а также их производные, защищены авторским правом и прочими законами Российской Федерации о защите интеллектуальной собственности. Данная форма документа, а также любая изложенная в нем информация, могут быть использованы только в некоммерческих (ознакомительных, исследовательских и прочих аналогичных) целях. Любое копирование на любых носителях, изменение, использование, воспроизведение, публикация, рассылка, хранение в информационных системах, в том числе, на веб-сайтах, или передача в любой форме и любыми способами и средствами, в том числе, электронными, механическими, посредством фотокопирования или любыми иными способами и средствами, полностью или в части, в том числе, для создания новых информационных объектов или для каких-либо иных целей, запрещено без предварительного письменного согласия правообладателя – Общества с ограниченной ответственностью «САЙТЕГРА».
Политика конфиденциальности

  • Русский