Искусственный интеллект (ИИ), включающий технологии машинного обучения и глубокого обучения, уже внедряется в нашу повседневную жизнь с помощью таких технологий, как Alexa, Spotify, Amazon, YouTube и автопилот Tesla. За последние четыре года также наблюдается тенденция к использованию микроскопистами решений «на основе ИИ» для оптимизации получения изображений (умная микроскопия), классификации объектов, классификации изображений, сегментации, восстановления, суперразрешения и виртуального окрашивания.
8 февраля в 18:00 по московскому времени компания Leica Microsystems проведет вебинар, посвященный анализу изображений с применением искусственного интеллекта в микроскопии.
Регистрация по ссылке: https://view6.workcast.net/register?cpak=1557472665088857&referrer=leicasemails
Эксперт по искусственному интеллекту доктор Куен Тран подробно осветит основные концепции искусственного интеллекта и определит некоторые ключевые термины, которые зачастую трудно расшифровать специалистам, не занимающимся искусственным интеллектом. Лектор расскажет о машинном обучении и глубоком обучении и о том, как их можно использовать для приложений микроскопии и анализа изображений, с целью извлечения дополнительной информации для своих исследований.
Участие бесплатное, язык вебинара — английский. Количество мест ограничено!
