scietegra@scietegra.com +7 (495) 542 49 16 ЭЖК Эдем, квартал 5, д.12
  • Сайтегра
    • О компании
    • Вакансии
  • Оборудование
    • Хроматография
      • Газовый хромато-масс-спектрометр Маэстро-αМС
      • Жидкостный хроматограф Маэстро ВЭЖХ
      • Близар Компакт
    • Элементный анализ
      • Атомно-абсорбционная спектрометрия
        • novAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии novAA®
        • ZEEnit
          • 650P
          • 700P
        • contrAA
          • Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® 800
      • ИСП-ОЭС
        • Plasma Quant
          • Plasma Quant 9000
      • ИСП-МС
        • Plasma Quant PQ MS
          • Plasma Quant MS
      • CNSCl-анализаторы
        • CNSCl — анализаторы
          • multi EA4000
          • multi EA5000
        • TOC — анализаторы
    • Электронная микроскопия
      • Помощник в выборе микроскопа
      • Сканирующие ЭМ
        • Термоэмиссионные микроскопы
          • Hitachi ТМ4000 Plus
          • FlexSEM SU1000
          • SU3800/SU3900
        • Автоэмиссионные микроскопы
          • SU5000
          • SU7000
          • SU8200
          • SU9000
      • Просвечивающие ЭМ
        • HT7800
        • HD2700
        • FE-TEM HF5000 Hitachi HT
        • HF-3300
      • Пробоподготовка
        • Крио-пробоподготовка для электронной микроскопии
          • Leica EM AFS2 Smart
          • Высококлассная система для подготовки образцов (TEM и SEM исследования) Leica EM ACE900
          • Leica EM ICE
          • Универсальная вакуумная крио-система для транспортировки образцов с защитой от загрязнения Leica EM VCT500
        • Двулучевые системы
          • NX2000
          • NX5000
          • NX9000
        • Триммеры и прецизионные станки
          • Leica EM RAPID
          • Leica EM TXP
          • Leica EM TRIM2
        • Установки для очистки образцов озоном и ультрафиолетом
          • Установка для очистки образцов озоном и ультрафиолетом Sample Cleaner ZONESEM & ZONETEM Hitachi HT
        • Ультрамикротомы & Системы по изготовлению стеклянных ножей
          • Leica EM KMR3
          • Leica EM FC7
          • Leica EM UC7
        • Системы ионного травления
          • Установка ионного травления Hitachi ArBlade5000
          • Cистема ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков Leica EM RES102
          • Hitachi IM4000Plus
          • Leica EM TIC 3X
        • Системы напыления металлом и углеродом
          • Leica EM ACE200
          • Leica EM ACE600
          • Leica EM ACE900
        • Тканевый процессор
          • Leica EM TP
        • Сушка в критической точке
          • Leica EM CPD300
    • Световая микроскопия
      • Прямые микроскопы