scietegra@scietegra.com
+7 (495) 542 49 16
мкр. Новогорск, ул. Заречная, д. 11, стр. 105
Сайтегра
О компании
Вакансии
Оборудование
Хроматография
Маэстро Альфа МС
Жидкостный хроматограф Маэстро ВЭЖХ
Маэстро Компакт
Элементный анализ
Атомно-абсорбционная спектрометрия
novAA
Атомно-абсорбционные спектрометры серии novAA®
Высокотехнологичные атомно-абсорбционные спектрометры ZEEnit
650P
700P
contrAA
Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® 800
Оптический эмиссионный спектрометр для измерения массовой доли химических элементов (ИСП-ОЭС)
Plasma Quant 9000
Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС)
Plasma Quant MS
CNSCl-анализаторы
CNSCl — анализаторы
multi EA4000
multi EA5000
TOC — анализаторы
Анализатор суммарных параметров multi N/C® 2100S
Анализатор суммарных параметров multi N/C® 3100
Анализатор суммарных параметров multi N/C® pharma
Анализатор суммарных параметров multi N/C® UV HS
Электронная микроскопия
Помощник в выборе микроскопа
Сканирующие электронные микроскопы
Термоэмиссионные микроскопы
Hitachi ТМ4000 Plus
FlexSEM SU1000
SU3800/SU3900
Автоэмиссионные микроскопы
SU5000
SU7000
SU8200
SU9000
Просвечивающие электронные микроскопы
HT7800
HD2700
FE-TEM HF5000 Hitachi HT
HF-3300
Пробоподготовка
Крио-пробоподготовка для электронной микроскопии
Leica EM AFS2 Smart
Высококлассная система для подготовки образцов (TEM и SEM исследования) Leica EM ACE900
Leica EM ICE
Универсальная вакуумная крио-система для транспортировки образцов с защитой от загрязнения Leica EM VCT500
Двулучевые системы
NX2000
NX5000
NX9000
Триммеры и прецизионные станки
Leica EM RAPID
Leica EM TXP
Leica EM TRIM2
Установки для очистки образцов озоном и ультрафиолетом
Установка для очистки образцов озоном и ультрафиолетом Sample Cleaner ZONESEM & ZONETEM Hitachi HT
Ультрамикротомы & Системы по изготовлению стеклянных ножей
Leica EM KMR3
Leica EM FC7
Leica EM UC7
Системы ионного травления
Установка ионного травления Hitachi ArBlade5000
Cистема ионного травления/полировки с изменяемым направлением ионных пучков Leica EM RES102
Hitachi IM4000Plus
Leica EM TIC 3X
Системы напыления металлом и углеродом
Leica EM ACE200
Leica EM ACE600
Leica EM ACE900
Тканевый процессор
Leica EM TP
Сушка в критической точке
Leica EM CPD300
Световая микроскопия
Прямые микроскопы
Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
Leica DM500
Прямой универсальный микроскоп Leica DM750 с бесконечной оптикой
Leica DM1000
Лабораторный эргономичный микроскоп с DIC-контрастом Leica DM2000
Leica DM4 B&DM6B
Leica DM2500
Автоматизированный лабораторный микроскоп Leica DM3000
Прямой монокулярный микроскоп Leitz Optilux
Конфокальные микроскопы
Leica STELLARIS STED
Leica STELLARIS 5 LIAchroic
Leica STELLARIS 5 WLL
Leica STELLARIS 8
Инвертированные микроскопы
Leica DMi1
Leica DMi8
Leica DMI3000 M
Leica DM IL LED
Стереомикроскопы
Серия А60
Стереомикроскопы отраженного света серии Leica A60
Серия S9
Leica Stereozoom серия S9
Серия EZ 4
Стереомикроскоп Leica EZ4 – без цифровой камеры
Стереомикроскоп Leica EZ4 W — со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп и WiFi-модулем для передачи данных
Стереомикроскоп Leica EZ4 E – со встроенной HD цифровой камерой 5 Мп
Серия M
Leica М50
Leica М60
Leica M80
Leica M125
Флуоресцентный стереомикроскоп Leica M205 FCA
Микроскопы сравнения
LEICA FS M
Leica FS C / M
Leica FS4 B
LEICA FS M
3D-Микроскопия
3D Cell Explorer
Термоанализ
Синхронный термический анализ
STA7000
Термомеханический анализ
TMA7000
Динамический механический анализ
DMA7100
Дифференциальная сканирующая калориметрия
Система УФ-излучения
DSC7000X
DSC7020
Молекулярная спектроскопия
УФ-Вид спектрофотометры SPECORD
Акции
Микроскоп Leica по низкой цене
Оборудование по специальным ценам со склада в Москве
Новости
Статьи
Контакты
Сервис
Поиск
Начните вводить и нажмите ввод для поиска
Главная
/ Акция на спектрофотометры серии SPECORD PLUS
Акция на спектрофотометры серии SPECORD PLUS
Акция на спектрофотометры серии SPECORD PLUS
